Forum www.melanexjou.fora.pl Strona Główna www.melanexjou.fora.pl
toqevepasco
 
 FAQFAQ   SzukajSzukaj   UżytkownicyUżytkownicy   GrupyGrupy   GalerieGalerie   RejestracjaRejestracja 
 ProfilProfil   Zaloguj się, by sprawdzić wiadomościZaloguj się, by sprawdzić wiadomości   ZalogujZaloguj 

2010 Development of LED lighting industry, technic

 
Napisz nowy temat   Odpowiedz do tematu    Forum www.melanexjou.fora.pl Strona Główna -> Forum testowe
Zobacz poprzedni temat :: Zobacz następny temat  
Autor Wiadomość
htw097d6t




Dołączył: 23 Mar 2011
Posty: 18
Przeczytał: 0 tematów

Ostrzeżeń: 0/5
Skąd: England

PostWysłany: Czw 3:19, 07 Kwi 2011    Temat postu: 2010 Development of LED lighting industry, technic

vi. chemical supply system: supplementary volume of chemical solution to high accuracy. vii. epitaxial wafers automatic transmission system: the wafer transfer can ensure a smooth transfer of consecutive 400 ru, [link widoczny dla zalogowanych] to ensure that the manufacturing yield rate. figure 12, hong plastic technology design automation of high-temperature wet etching phosphate production equipment 5, the conclusion of this paper has high temperature for the sapphiresubstrate phosphorylation
although the mosaic of 400μm & time500μm territory extended electrode area, for reducing the favorable p-type ohmic contact resistance, but increased the distance between the current transport, [link widoczny dla zalogowanych] may increase the body resistance, the two effects offset the iv characteristics makes the chip smaller size of the mosaicof 350μm & time350μm similar chip layout. 350μm & time350μm diagonal layout with diagonal electrode, the measured iv characteristics show that the p electrode wire electrode and the distance n or less, chip mosaic iv characteristics of the electrode chip considerable.
well-known, led is a semiconductor product, if the led pin of the two pins or more components between the medium voltage exceeds the breakdown strength, it will cause damage to the device. the thinner oxide layer, the [link widoczny dla zalogowanych] ic and the greater the sensitivity of static, such as solder is not full, the quality of the solder itself, problems, etc., will have a serious leak paths, resulting in devastating damage. another failure was due to the node temperature exceeds the melting point of semiconductor silicon (1415 ℃) arising from. pulse energy can generate static electricity localized heating, resulting in the breakdown of the lamp and the ic directly to the fault.


Post został pochwalony 0 razy
Powrót do góry
Zobacz profil autora
Wyświetl posty z ostatnich:   
Napisz nowy temat   Odpowiedz do tematu    Forum www.melanexjou.fora.pl Strona Główna -> Forum testowe Wszystkie czasy w strefie EET (Europa)
Strona 1 z 1

 
Skocz do:  
Możesz pisać nowe tematy
Możesz odpowiadać w tematach
Nie możesz zmieniać swoich postów
Nie możesz usuwać swoich postów
Nie możesz głosować w ankietach

fora.pl - załóż własne forum dyskusyjne za darmo
Powered by phpBB © 2001, 2005 phpBB Group
Regulamin